Svepelektroanalys av optiskt mikroskop

I tillverkningsprocessen för reflekterande plattor bildades ett fint damm som försämrade reflektionsförmågan. CTK analyserade plattorna i optiskt mikroskop samt svepelektronmikroskop. Efter konsultation med forskningsingenjörer konstateras vad dammet utgjordes av samt en analys av vad som kunnat orsaka beläggningen. Ircon utförde ändringarna i sin process och lyckades bli av med problemet.

Kompetenser

  • Svepelektroanalys